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開爾文探針系統(tǒng)KP技術(shù)在使研究人員能夠改進其材料的特性方面處于Leading position地位。
我們的專業(yè)知識支持新興和材料技術(shù)的發(fā)展。
目前令人興奮的增長領(lǐng)域包括太陽能電池、鈣鈦礦、二維材料、石墨烯、oled、光伏和鉬的研究，然而這項技術(shù)可以應用于許多科學領(lǐng)域
掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界最高分辨率的測試系統(tǒng)。
特性
•在空氣中光電發(fā)射功函數(shù)
•密度的狀態(tài)測量
•3.4 eV至7.0 eV能量范圍
•測量所有半導體波段
•開爾文探針接觸電位差
應用領(lǐng)域：
•有機和非有機半導體
•金屬和金屬合金
•薄膜和表面氧化物
•太陽能電池和有機光伏
•腐蝕和納米技術(shù)
